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加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀(guān)結構的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統，通過(guò)改進(jìn)光路設計，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升級，易于操作，元素分析更快速。

荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，使用戶(hù)可以輕松獲得高分辨率圖像，且低電壓性能優(yōu)異。飛納臺式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 低電壓成像優(yōu)勢明顯，可減輕電子束對樣品的損傷和穿透，更好地觀(guān)測絕緣和電子束敏感的樣品，可以還原樣品真實(shí)形貌。

第六代 Phenom Pro 高分辨率臺式掃描電鏡是一款功能強大，輕松易用的多功能設備。長(cháng)壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能，結合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件，Phenom Pro 可以適用于廣泛的研究領(lǐng)域。

全新的易于學(xué)習的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應用的理想選擇。Phenom XL G2 臺式掃描電鏡大樣品室版升級為全面屏成像，平均成像時(shí)間僅為 40 秒，比市場(chǎng)上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統可對 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細節。