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      • Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡
        Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

        結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統,以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析,代表著(zhù)微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步??焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶(hù)檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng )造了一個(gè)強大工具。

        更新時(shí)間:2024-09-20型號:Particle Metric瀏覽量:2060
      • Phenom Particle Metric顆粒測試
        Phenom Particle Metric顆粒測試

        Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析,是微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步??焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶(hù)提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

        更新時(shí)間:2024-09-20型號:瀏覽量:2593
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