飛納電鏡持續創(chuàng )新 系列一
01
“你這個(gè)位置是哪里拍的?其他位置什么情況?整個(gè)樣品上裂紋的走勢是什么樣的?”
作為失效工程師,收到老板或同事的靈魂拷問(wèn),是不是常常讓你頭疼?
02
“你這個(gè)太局部了,不具有代表性,其他位置什么情況?”
明明是供應商產(chǎn)品的問(wèn)題,但強勢的甲方的詭辯總讓你無(wú)奈不已?
03
“小張,我要整個(gè)組織切片的全貌,請確保拍下來(lái)。”
導師的要求太天真,臣妾做不到?
別擔心,飛納電鏡 MAPS 系統幫你解決這些問(wèn)題!
2024 年,飛納發(fā)布數據采集及閱讀系統 Phenom MAPS。該系統不僅改變了數據存儲的方式,還為 SEM 表征與數據分析開(kāi)啟了“上帝視角”,幫您輕松掌握每一個(gè)細節,不再需要費力解釋。
今天,我們來(lái)詳細了解一下這款為科學(xué)家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統。
No。1 :多圖層數據采集及閱讀系統
“人如其名”,MAPS 是地圖的意思,該系統會(huì )像地圖一樣,通過(guò)層級的方式,實(shí)現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數碼存檔,從全面(宏觀(guān))到具體(微觀(guān))無(wú)所不包,改變了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且,多圖層數據可以包含能譜。
No.2 :大面積成像拼接,wan全無(wú)痕!
大面積成像拼接,萬(wàn)全無(wú)痕
No.3:大面積能譜分析,地質(zhì)行業(yè)zui愛(ài)!
這里是一個(gè)地質(zhì)樣品的能譜拼圖結果,Phenom MAPS 可以實(shí)現對整個(gè)樣品的能譜采集,導出任意拼接的原始能譜數據,以方便進(jìn)行離線(xiàn)分析。
No.4 :CISA,關(guān)聯(lián)一切可視化圖片
光鏡、拉曼、紅外、XPS,甚至 CAD 或手繪草圖,通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例:通過(guò) MAPS CISA,將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合,分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。
通過(guò)結合 XPS 和 SEM 的分析,可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。
總結
飛納電鏡 MAPS 系統不僅是一個(gè)自動(dòng)化的圖像、能譜采集工具,更是一個(gè)數碼存檔和關(guān)聯(lián)數據分析平臺。通過(guò)地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數據采集及關(guān)聯(lián)系統,為您提供多模態(tài)的“上帝視角”,全面掌握顯微鏡數據,不再錯過(guò)任何細節。
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下期預告
新品發(fā)布會(huì )直播預告
飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議,重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應用案例!
iCEM 2024
“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議(iCEM 2024)”結合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應用熱點(diǎn),邀請業(yè)界電子顯微學(xué)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)應用專(zhuān)家等,重點(diǎn)邀請近來(lái)有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線(xiàn)上分享精彩報告。
復納科學(xué)儀器(上海)有限公司應用專(zhuān)家張傳杰將帶來(lái)主題【新品發(fā)布:飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時(shí)間:6 月 26 日 10:30-11:00,歡迎大家報名預約觀(guān)看。