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      飛納電鏡彩色成像,給你的掃描電鏡來(lái)點(diǎn)“顏色”看看

      發(fā)布時(shí)間: 2024-07-29  點(diǎn)擊次數: 318次

      隨著(zhù)工業(yè)生產(chǎn)日益復雜和產(chǎn)品標準不斷提高,部件的質(zhì)量控制和生產(chǎn)速度變得越來(lái)越重要。對于實(shí)驗室和質(zhì)量管理負責人而言,往往需要在技術(shù)人員較少、時(shí)間有限的情況下提供分析結果。目前,標準的行業(yè)解決方案是將用于獲取結構信息的掃描電子顯微鏡(SEM)與能量色散 X 射線(xiàn)光譜(EDS)探測器相結合,進(jìn)行樣品的化學(xué)元素分析表征。

       

      EDS 提供的元素信息可以給質(zhì)量分析提供指導方向,然而將掃描電鏡(SEM)與 EDS 割裂為兩個(gè)獨立的設備會(huì )導致用戶(hù)體驗不夠友好。比如:需要不斷地在高低倍數間切換來(lái)完成樣品尋找和成像;需要在兩個(gè)系統間不斷進(jìn)行數據同步和關(guān)聯(lián);獨立的硬件和軟件需求會(huì )導致兼容性問(wèn)題和維護困難;數據分析可能會(huì )很麻煩并且需要很長(cháng)時(shí)間;操作人員需要更長(cháng)時(shí)間的專(zhuān)門(mén)培訓。

       

      飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù),將掃描電鏡(SEM)形貌觀(guān)察與 EDS 成分分析相結合,讓工作流程更加流暢,簡(jiǎn)化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過(guò)彩色元素分布圖與掃描電鏡(SEM)圖像的實(shí)時(shí)疊加,在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

       

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      ChemiSEM 分析技術(shù)在易用性、便利性和速度上的提升,可以更快、更輕松地提供元素信息,降低每個(gè)樣品分析測試的成本,更好地服務(wù)于質(zhì)量分析過(guò)程。

       

      對于您的實(shí)驗室

       

      ChemiSEM 提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易行的解決方案,易于安裝和使用,始終處于開(kāi)啟狀態(tài),并且能夠在最少的訓練和培訓下提供可靠的結果。

       

      對于您的團隊

       

      ChemiSEM 延長(cháng)了設備有效機時(shí),增加了樣品吞吐量,從而提高了材料分析的質(zhì)量和數量。

       

      PART.01 實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息

       

      所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復雜的,對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應用,研發(fā)需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解決出現的問(wèn)題。

       

      ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中,并在電鏡工作時(shí)始終在后臺收集成分數據,逐步建立樣品更全面和詳細的信息,幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問(wèn)題

       

      PART.02 實(shí)時(shí)定量面掃:不再有分析干擾

       

      傳統的元素分析中,復雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結果。例如,一個(gè)峰的信號有時(shí)會(huì )被識別為兩個(gè)元素,產(chǎn)生錯誤,干擾樣品Q(chēng)C 問(wèn)題的判斷。

       

      憑借創(chuàng )新的算法和智能光譜擬合,ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗室團隊實(shí)現準確的元素識別和量化——即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

       

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      ChemiSEM 定量面掃

       

      ChemiSEM 技術(shù)自動(dòng)處理原始信號,生成定量面掃結果。數據被很好地解析,能夠有效避免和峰和重疊峰的影響。并且同時(shí)處理 BSE(背散射電子)和 EDS 信號,從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和元素定量結果。

       

      PART.03 無(wú)偏差相分析

       

      傳統的相分析高度依賴(lài)于對樣品的假設,當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時(shí),這可能會(huì )是一個(gè)問(wèn)題。

       

      有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技術(shù)中的一項新功能)后,可以避免這種情況。復雜樣品的分析能夠做到無(wú)偏差,可以基于數據單元中所有光譜結果,系統地識別每個(gè)獨立的相。隨后,數據分析可以在沒(méi)有任何元素預定義的情況下自動(dòng)運行,無(wú)需豐富經(jīng)驗即可定位次要/微量元素,明確識別主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。

       

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      地質(zhì)切片分析

       

      使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析,每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計算,可以將不同礦物相有效區分。

       

      PART.04 自動(dòng)樣品漂移校正

       

      成分分析過(guò)程中,準確和有效的定量結果需要一個(gè)正確且穩定的樣品位置信息。

       

      通常在圖像漂移的情況下,研究人員需要多次重新獲取分析數據,或者等待樣品停止漂移后再獲取數據,這兩種方式都會(huì )降低測試效率。

       

      通過(guò)不斷監控樣品位置,ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正,使高倍率操作和較長(cháng)時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節省寶貴的時(shí)間和精力,專(zhuān)注于更重要的事情:盡快獲取最高質(zhì)量的數據。

       

       

      簡(jiǎn)而言之,ChemiSEM 技術(shù)提供高質(zhì)量的分析結果。它在大量的操作參數范圍內進(jìn)行了優(yōu)化,即使在存在多個(gè)重疊峰的情況下也能提供可靠的數據結果。智能光譜擬合根據精確的參數設置自動(dòng)驗證元素,為獲得的結果提供保證。

       

       

       

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